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本申请公开了系统板、老化测试系统以及老化测试设备，系统板包括基板以及设置在基板上的控制单元、电源组件、激励产生组件以及检测组件，控制单元、电源组件、激励产生组件以及检测组件通过多个接口进行电连接；控制单元用于根据接收到的测试指令生成电源信号与配置信号，并将电源信号与配置信号分别输出至电源组件与激励产生组件；电源组件用于根据电源信号为系统板、转接板以及老化板提供工作电源；激励产生组件用于根据配置信号生成激励信号，并将激励信号输出至待测芯片；检测组件用于将接收到的待测芯片的输出信号传输至外部设备。本
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117388671A
(43)申请公布日2024.01.12
(21)申请号202311519497.3
(22)申请日2023.11.14
(71)申请人天芯互联科技有限公司
地址51
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