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本发明公开了一种探测器的位置检测工装、位置检测方法及CT系统。该位置检测工装包括固定架，用于固定在CT扫描架的一侧；定位部，设置于固定架的一侧，并呈预设形状；其中，预设形状与安装在CT扫描架上的探测器模组的形状相对应，探测器模组由多个探测器模块拼接而成；检测部，设置于定位部的外侧，并且检测部上均匀分布有多个检测位；其中，检测部用于与探测器模组相对应，以使每一个探测器模块均对应预设数量的检测位。利用该位置检测工装，可以根据投影图像计算出每一个检测位的中心点坐标偏差，进而推算出每一个探测器模块的实际
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117379077A
(43)申请公布日2024.01.12
(21)申请号202311367127.2
(22)申请日2023.10.20
(71)申请人北京纳米维景科技有限公司
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