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光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)检定规程

本规程适用于新制造的、使用中的和修理后的光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)的检定。

一概述

光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)是用来测量单模、多模光纤的折射率分布、折射率差值和几何尺寸等参数的专用仪器。测量仪(折射近场法)的原理框图见图1。

接收探测系统

接收探测系统

微位移台

聚焦反射系统

控制电路

计算机

He-Ne激光器

放大电路

图1

He-Ne激光器发射出单横模激光，经光学聚焦、反射系统会聚成扫描激光光斑。控制电路驱动微位移台一维或二维扫描，即扫描激光光斑沿一维或二维方向扫描光纤被测端面。折射近场法不测量光纤的导模，而测量光纤的折射模。理论推导证明(参考图2)如下：

△n(r)=-K?·P(θ?)+K?

K?=n/(2πlg)

K?=P·n?/(2πl?)

光纤相对匹配液的折射率△n(r)与折射光功率P(0?)成正比。

光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)的基本测试功能包括：用折射近场法测量单模和多模光纤的折射率分布曲线，然后用单模或多模光纤的折射率分布曲线计算出折射率差值、包层直径、芯径等几何参数。

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图2

二检定项目和检定条件

1光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)的检定项目和主要检定用的工具列于表1。

表1

序号

检定的项目

主要检定

用的工具

检定类别

新制造的

修理后的

使用中的

1

外观

+

2

折射率分布及

几何参数测量

几何参数和

折射率标准光纤

+

+

+

注：“+”表示该项必须检定，“-”表示该项可以不检定。

2检定条件

2.1光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)需放置于具有良好隔震措施的平台上。

2.2室温控制在(20±3)℃,湿度≤80%。

2.3光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)正常工作前应预热30min以上。

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三检定方法和技术要求

3外观

3.1要求

3.1.1仪器外表无明显碰、划、刻痕迹。

3.1.2仪器中光学表面洁净无灰尘。

3.1.3仪器应有制造厂名(或厂标)和出厂编号。

3.1.4运动部件工作灵活无阻碍。

3.2检定方法：目视观察。4折射率分布及几何参数

4.1要求：

光纤包层直径测量重复性2o≤1μm;

光纤包层直径测量不确定度U≤1.5μm;

光纤折射率测量重复性2o≤0.001;

光纤折射率测量不确定度U≤0.0015。

4.2检定方法

4.2.1光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)采用折射近场法测量光纤的折射率分布和几何参数。

4.2.2对配置的几何参数标准光纤进行检查，注意保护好标明检定结果的端面，所给检定结果与标明的端面一一对应。端面粘有污迹后可以用酒精清洗干净。

4.2.3目视检查氨氖激光器工作正常，聚焦良好。

4.2.4准备洁净折射率匹配液室一个，将几何参数标准光纤(短光纤，长度约10cm)沿倒置方向插入光纤夹杆中，如图3所示。

4.2.5测量光纤包层直径10次，记录下10次测量结果d?,d?,…,djo,几何尺寸

平均值D和测量重复性2σ用公式(1)和(1)计算求出：

D=(d?+d?+…+do)/10(1)

2o=2{[(d?-D}2+(d?-D)2+…+(dio-D)2]/9jl2(1)

4.2.6准备折射率标准光纤，这种光纤的折射率分布曲线如图4所示。

用折射率标准光纤重新切割，准备洁净匹配液室一个，重复测量阶梯Ⅲ(或其他选定阶梯)的折射率值10次，记录下10次的测量结果n,M?,…,niu,折射率测量平均值n和折射率测量重复性2o按公式(2)和(2)计算求得：

n=(n+n?+…+nio)/10(2)

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由端生测

由端生测

光纤插管

插入方向

光纤

图3

位置

图4

2o=2|[(n?-n)2+(m?-n}2+…+(nio-n)2]/9|L2