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本发明提出了一种用于土遗址片状剥离发育程度量化评估及预测的方法，步骤为：现场勘察土遗址样本点，测量片状剥离表征指标；收集环境数据，对片状剥离的结皮层、疏松层、母墙土体进行取样，确定影响片状剥离发育演化的评价指标；构建片状剥离递阶层次结构模型；利用层次分析法计算评价指标的主观权重，利用主成分分析法筛选主成分指标计算评价指标的客观权重；利用乘法归一化组合赋权法进行组合得到综合权重；结合逼近理想解排序法计算研究区域的相对贴近度，计算片状剥离发育程度分值，确定各遗址研究区域的片状剥离发育程度的等级；结合
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117408565A
(43)申请公布日2024.01.16
(21)申请号202311458014.3G06F17/16(2006.01)
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