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本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种自动测试机的信号收发装置及自动测试机。所述装置包括：两个本振模块，分别用于产生多路本振信号；两路信号发射链路，分别与所述本振模块对应连接，分别用于接收一路所述本振信号后输出多路射频信号；逻辑接口模块，与所述两路所述信号发射链路连接，用于接收所述多路射频信号后经过处理输出多路测试信号至多个被测器件，以及接收所述多个被测器件的反馈信号；多路信号解调链路，分别与所述逻辑接口模块以及所述两个本振模块连接，分别用于接收多路所述反馈信号后，分别根据其中一路本振信
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220359153U
(45)授权公告日2024.01.16
(21)申请号202321603409.3
(22)申请日2023.06.21
(73)专利权人杭州长川科技股份有限公司
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