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本申请实施例公开了一种单粒子效应测试方法及测试系统，利用JTAG协议的通用性、低成本性，上位机外接J‑Link跟被测处理器进行通讯，通过J‑Link向处理器下载不同类型的镜像程序来对CPU寄存器、外接存储单元、外部通讯接口、外接FPGA等跟CPU连接的芯片进行测试。本测试可以在一次实验过程中实现测量板卡内部不同芯片单粒子翻转情况、处理器内部寄存器单粒子翻转比例、板卡上所有芯片可承受的最大辐射值，该测试方法具有高可靠性、高灵活性特点。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117420417A
(43)申请公布日2024.01.19
(21)申请号202311383929.2
(22)申请日2023.10.24
(71)申请人中国南方电网有限责任公司
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