JR-T 0045.4—2014 中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第4 部分：非接触卡片检测规范.pdf

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A11

备案号：JR

中华人民共和国金融行业标准

JR/T0045.4—2014

中国金融集成电路（IC）卡检测规范

第4部分：非接触卡片检测规范

Chinafinancialintegratedcircuitcardtestspecifications—

Part4:Contactlesscardtestspecification

2014-07-30发布2014-07-30实施

中国人民银行发布

JR/T0045.4—2014

目次

前言I

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4符号和缩略语5

5总体要求8

6电特性和通讯协议的测试案例8

6.1电气特性测试(CFCA、CFCB、CFCAB)8

6.2传输协议测试：TYPEA(CTPA)25

6.3传输协议测试：TYPEB(CTPB)52

6.4块传输协议执行（BTPC）59

7快速借记贷记应用的测试案例65

7.1PPSE选择65

7.2货币匹配或不匹配65

7.3终端仅支持脱机66

7.4终端或卡请求CVM71

7.5检查联机处理请求73

7.6小额检查77

7.7小额和CTTA检查80

7.8小额或CTTA检查83

7.9没有任何脱机选项被支持87

7.10脱机下的货币不匹配88

7.11卡片要求借记贷记联机91

7.12预付92

7.13动态数据认证94

7.14交易时间98

7.15防插拔100

7.16ATCFFFF永久锁定应用101

7.17查余额101

7.18寿命测试101

8双币电子现金应用的测试案例102

9非接触小额支付扩展应用的测试案例102

9.1扩展应用基础102

9.2脱机预授权和预授权完成108

9.3押金抵扣119

JR/T0045.4—2014

前言

JR/T0045《中国金融集成电路（IC）卡检测规范》分为5个部分：

——第1部分：借记/贷记应用卡片检测规范；

——第2部分：借记/贷记应用终端检测规范；

——第3部分：借记/贷记应用个人化检测规范；

——第4部分：非接触卡片检测规范；

——第5部分：非接触终端检测规范。

本部分为JR/T0045的第4部分。

本部分依据GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本部分由中国人民银行提出。

本部分由全国金融标准化技术委员会（SAC/TC180）归口。

本部分主要起草单位：中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、中国

金融电子化公司。

本部分主要起草人：王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、