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本发明公开了一种基于F‑P标准具的扫频干涉测距非线性校正方法，扫频光源产生的激光经80:20分束器分配到测量干涉仪和F‑P标准具，测量干涉仪部分采用90:10分束器将光分配到测量光路和参考光路；F‑P标准具用于产生等频率间隔的透射谱峰值信息，便于建立时间‑频率映射关系，对干涉信号等频率间隔重采样，消除调谐非线性的影响；BPD用于消除共模噪声，提高信噪比，将光信号转换为电信号，输入到数据采集模块进行数据采集并存储。采集的干涉信号结合F‑P的透射谱峰值信息进行等光频间隔采样的数据处理，通过重采样信号
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117434523A
(43)申请公布日2024.01.23
(21)申请号202311153810.6
(22)申请日2023.09.07
(71)申请人中国石油大学（华东）
地址26
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