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本发明公开基于工业场景下的X射线成像图像的缺陷智能评级方法，包括如下步骤：将待测图像按照固定宽度进行切割，并通过填充黑色边框的方式，获得标准方形尺寸的待测图像，将标准方形尺寸的待测图像放入图像识别模型，得到待测图像的缺陷掩膜以及缺陷类别；将缺陷掩膜进行反向变换并还原掩膜图像尺寸，完成掩膜图像重组，获得缺陷区域；合成待测图像的缺陷区域和缺陷类别，生成待测图像的缺陷分布全息图，利用缺陷级别评定模块，完成整幅待测图像的缺陷的缺陷评级工作。本发明极大提高了缺陷类型识别精度以及缺陷区域分割精度，进而实现对
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN112102255A
(43)申请公布日2020.12.18
(21)申请号202010851981.6
(22)申请日2020.08.21
(71)申请人杭州
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