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本申请公开了一种线结构光条纹中心提取方法，包括预先基于高斯曲线特性构建有限状态机，其用于检测拟合差分曲线中峰值最高的波峰、零点位置和峰值最低的波谷位置以得到与光条纹中心距离误差小于一个像素的像素点位置。对摄像机采集的原始光带图的每一列图像像素灰度值进行拟合差分处理，得到拟合差分曲线；依次将原始光带图每一列图像像素的拟合差分值输入至有限状态机中，根据有限状态机输出的像素点位置进行光条纹中心亚像素级定位，得到原始光带图的光条纹中心。本申请在提高线结构光条纹中心提取精度的同时，不增加条纹中心提取过程中
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN111899297A
(43)申请公布日2020.11.06
(21)申请号202010798227.0
(22)申请日2020.08.06
(71)申请人中国
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