一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法.pdfVIP

一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法.pdf

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本发明公开了一种基于指数分布研究模型的软件缺陷预测方法,包括:人工设定时间长度;收集待测软件早期的测试数据,获得各测试周期内该时间长度x的软件缺陷数量;利用指数分布的概率密度函数计算各测试周期内产生软件缺陷的概率,并分析软件缺陷变化趋势,再结合软件缺陷的优先级,对软件开发问题进行评估;进入回归测试阶段。通过直接计算各测试周期的时间长度内产生的软件缺陷数量,并计算软件缺陷产生概率及下降趋势的方法,无需受数据类不平衡和高度复杂化的特征问题的影响,更加具有普适性。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117435486A

(43)申请公布日2024.01.23

(21)申请号202311382226.8

(22)申请日2023.10.24

(71)申请人长春嘉诚信息技术股份有限公司

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