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一种封装IC表面缺陷视觉检测方法.pdfVIP

一种封装IC表面缺陷视觉检测方法.pdf

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    本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种封装IC表面缺陷视觉检测方法，包括：获取封装IC灰度图像，得到封装IC灰度图像的梯度直方图和封装IC灰度图像的灰度直方图，根据灰度直方图得到连续的灰度级区间中所有灰度级的导数，得到第一影响因素和得到第二影响因素，根据第一影响因素和第二影响因素得到灰度级均衡化后的对应的灰度级，对增强封装IC灰度图像进行缺陷检测。本发明通过对图像进行自适应增强，并对图像进行后续快速分割检测，相较于现有的快速分割检测方法，降低了引脚缺损缺陷与引脚向上弯曲的误检率，提升缺陷检测效

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117437238A

    (43)申请公布日2024.01.23

    (21)申请号202311773843.0G06T7/11(2017.01)

    (22)申请日2023.12.2

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