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基于空间环形特征的薄型物体三维测量方法.pdfVIP

基于空间环形特征的薄型物体三维测量方法.pdf

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    本发明涉及物理测量技术领域，公开基于空间环形特征的薄型物体三维测量方法，属于结构光三维测量领域，包括建立标志物、标定系统、获取单面测量结果、测量结果拼接、填补边缘镂空区域和纹理映射六个步骤，采用圆心序号已知的多个圆形组合构成空间环形特征，作为标志物。测量时，将标志物与待测物体固定，保证待测物体与标定物位姿不发生改变；测量完成后通过两次测量结果间的旋转平移矩阵及标志物特征矩阵，完成薄型物体正反面测量结果高效拼接；同时，利用圆形区域正反面变形相移条纹的平均调制度比值完成纹理信息亮度统一处理，同时保证

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117450955A

    (43)申请公布日2024.01.26

    (21)申请号202311768757.0G06V10/75(2022.01)

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