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本发明涉及键盘测试设备技术领域，尤其是涉及一种全键盘按键压力测试设备。包括：变距测试模组机构，变距测试模组机构包括安装于底板的多个变距测试模组以及与变距测试模组一一对应设置的测头模组；变距测试模组包括第一驱动装置和第二驱动装置，测头模组安装于第二驱动装置，第二驱动装置设置在第一驱动装置上，第一驱动装置用于调整测头模组在X方向上的位置，第二驱动装置用于调整测头模组在Y方向上的位置；测头模组包括升降装置以及用于测试的测头，升降装置与测头连接，用于调整测头在Z方向上的位置。本发明提供的全键盘按键压力测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117451327A
(43)申请公布日2024.01.26
(21)申请号202311109775.8
(22)申请日2023.08.31
(71)申请人湃瑞电子科技（苏州）有限公司
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