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本发明提供了用于半导体分选一体机的自动控制方法及系统，涉及数据处理技术领域，通过接收待分选半导体图像和基准半导体图像识别生成关联抓手位置标识以调取多个真空吸盘抓手执行抓取定位控制并采集抓手定位图像，进而基于分选抓手定位图像信息确定抓手坐标偏离系数，当偏离系数小于或等于坐标偏离系数阈值时，激活多个真空吸盘抓手执行半导体分选。解决现有技术中存在基于不同类型半导体芯片抓取位置的差异性，导致传统半导体分选机无法实现多类半导体芯片的抓取方案自动化生成的技术问题。达到了根据半导体形状特征自动化分析确定进行半
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117463645A
(43)申请公布日2024.01.30
(21)申请号202311823941.0
(22)申请日2023.12.28
(71)申请人东屹半导体科技（江苏）有限公司
地
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