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本发明公开了一种纳米晶材料检测装置,属于质检技术领域,包括工作台,轨道:所述轨道固定连接在工作台的上端,且所述轨道的内部活动连接有移动块,所述移动块的前端安装有用于承载纳米晶材料的承载结构。本发明通过滑块带动承载结构沿着轨道滑动,承载结构跟随滑块移动的过程中会利用取料盒盛取料仓内的纳米晶材料,随着震动电机的启动便会将纳米晶材料分散到承载台上的放料区内,然后再将承载台移动到高清相机的下端,利用高清相机进行观察,进而对纳米晶材料进行检测,符合标准的会投放到回收仓内,不符合标准的会投放到废料仓内,通过
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117470768A
(43)申请公布日2024.01.30
(21)申请号202311447855.4
(22)申请日2023.11.02
(71)申请人嘉兴学院
地址314001
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