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一种基于无监督学习的芯片缺陷检测方法及其评估方法.pdfVIP

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  • 2024-01-31 发布于四川
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一种基于无监督学习的芯片缺陷检测方法及其评估方法.pdf

    本发明公开了一种基于无监督学习的芯片缺陷检测方法及其评估方法，包括：1、训练数据预处理；2、构建无监督缺陷检测网络模型，包括修复性子网、鉴别性子网、模拟异常生成器和不确定度的可靠性评价；3、利用自动生成的芯片缺陷数据集对无监督缺陷检测网络模型进行训练；4、使用经过训练的无监督缺陷检测网络模型对芯片缺陷数据集进行处理，从中获取异常检测结果和不确定度结果。本发明能显著提高PCB检测效率和准确度，并引入不确定度作为可靠性评价指标，从而能更好地评估模型性能。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117474868A

    (43)申请公布日2024.01.30

    (21)申请号202311441318.9G06N3/0455(2023.01)

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