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本申请涉及一种迁移率侦测方法、迁移率侦测装置和显示装置,该迁移率侦测方法包括:对驱动晶体管的控制端和输出端分别施加第一电位和第二电位,以使驱动晶体管导通,进而将第一电位转换为流过驱动晶体管的驱动电流;在驱动晶体管导通期间,先将驱动晶体管的控制端浮置,再将驱动晶体管的输出端的电位下拉至第三电位,接着将驱动晶体管的输出端浮置,以使驱动晶体管的输出端电位被驱动电流抬升;在驱动晶体管的输出端浮置预设时长后,侦测驱动晶体管的输出端的电位,以得到驱动晶体管的迁移率数据。从而在侦测驱动晶体管的迁移率的过程中,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117475923A
(43)申请公布日2024.01.30
(21)申请号202310406431.7
(22)申请日2023.04.10
(71)申请人深圳市华星光电半
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