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GTEM小室对电小尺寸辐射体辐射发射测试的研究的中期报告

【目录】

一、研究背景

二、研究目的

三、研究内容

四、研究进展

五、存在问题及解决方案

六、未来工作计划

七、参考文献

【正文】

一、研究背景

电子产品在现代社会得到了广泛应用，而这些电子产品产生的电磁辐射也给人们的身体健康带来了潜在的威胁。因此，为了确保电子产品的安全性和可靠性，对其电磁辐射进行测试和评估已成为极为重要的工作。

在电磁辐射测试领域，GTEM小室已成为广泛应用的一种测试设备，主要用于测试电子产品的辐射性能。然而，对于较小尺寸的电子产品，GTEM小室本身的辐射效应会对测试结果产生影响，因此需要研究补偿算法以消除这些影响。

二、研究目的

本研究旨在探索和研究如何利用GTEM小室对小尺寸电子产品进行电磁辐射测试，并通过建立精确的数学模型和补偿算法来消除小尺寸电子产品测试中GTEM小室本身的辐射效应，从而提高测试结果的准确性和可靠性。

三、研究内容

本研究主要包括以下内容：

1.对GTEM小室和小尺寸电子产品的建模和仿真，分析它们之间的相互作用。

2.开展实验，验证模型的正确性和补偿算法的有效性。

3.优化补偿算法，提高测试结果的准确性和可靠性。

四、研究进展

截至目前，我们已完成了对GTEM小室和小尺寸电子产品的建模和仿真，初步分析了它们之间的相互作用。同时，我们已经进行了一系列实验，验证了数学模型的正确性和补偿算法的有效性。具体来说，我们通过测量小尺寸电子产品在GTEM小室中的辐射强度，结合建立的数学模型，成功地消除了GTEM小室本身的辐射效应，提高了测试结果的准确性。

五、存在问题及解决方案

在研究过程中，我们发现存在以下问题：

1.测试过程中，小尺寸电子产品与GTEM小室之间的距离对测试结果有较大影响，需要进一步优化补偿算法。

2.小尺寸电子产品表面形状和材料对测试结果的影响尚未充分考虑，需要进行更深入的研究。

解决方案：

1.进一步完善模型，考虑小尺寸电子产品与GTEM小室之间的距离等因素，优化补偿算法。

2.开展更多实验，分析小尺寸电子产品表面形状和材料对测试结果的影响，完善数学模型。

六、未来工作计划

基于目前的研究进展和发现，我们在接下来的工作中将进一步深入探究与研究如何对小尺寸电子产品进行电磁辐射测试，具体的工作计划如下：

1.进一步完善数学模型，考虑更多因素的影响，优化补偿算法。

2.开展更多实验，完善数学模型和补偿算法，进一步验证其准确性和可靠性。

3.进一步深入分析小尺寸电子产品表面形状和材料对测试结果的影响，提出解决方案。

七、参考文献

[1]Ma,G.,Ma,Y.,Zheng,P.,Du,J.(2011).TheresearchonreconstructionalgorithmofEUTinGTEMcellradiationmeasurement.JournalofElectromagneticWavesandApplications,25(8-9),1188-1199.

[2]Li,H.,Wei,J.,Li,Y.(2009).TheoreticalanalysisofradiationmeasurementaccuracyforelectronicproductsinGTEMcell.MeasurementScienceandTechnology,20(8),084005.

[3]Serhir,M.,Baudin,G.(2012).Near-fieldscanningandtestinginsideaGTEMcell.JournalofElectromagneticWavesandApplications,26(14-15),2037-2046.