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本发明属于微波测量领域，涉及超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法。测量系统包括测量夹具、外部场源、待测周期结构单元和矢量网络分析仪，矢量网络分析仪与测量夹具电性连接，待测周期结构单元置于测量夹具内部，外部场源置于测量夹具外部，外部场源将外部信号输入到待测周期结构单元，矢量网络分析仪测量待测周期结构单元受外部信号影响下的测量系统反射参数。测量方法包括将待测周期结构单元置于短路面与内导体空隙处，施加不同的外部信号并记录测量系统反射参数，根据反射参数通过电磁理论计算得到待测周期结构单元的幅相特性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117491785A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202311494580.X
(22)申请日2023.11.10
(71)申请人山东非金属材料研究所
地址25
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