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本发明涉及一种基于光电导效应的无源射频阵列快速测量系统及方法。该设计将半导体片放置在阵列表面，利用光电导效应，将光源照射在待测无源射频阵列表面的半导体片上产生等离子体，生成的等离子体散射待测无源射频阵列发射的电磁波，根据无源射频阵列的互易特性接收散射电磁波。通过控制光源系统在待测区域内扫描，即可测量出不同位置的电磁复信号分布，测量的空间分辨率与光斑尺寸相关，通常远小于工作波长，因此可以实现高分辨率的成像，由此对无源阵列的表面亚波长结构及辐射特性进行分析与诊断。本发明系统构成简便，无需在远场或紧缩
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117491750A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202311528226.4
(22)申请日2023.11.16
(71)申请人北京航空航天大学
地址1001
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