探测器、探测器晶体校正方法.pdfVIP

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2024-02-03 发布于四川
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探测器、探测器晶体校正方法.pdf

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本申请涉及一种探测器、探测器晶体校正方法，探测器包括电荷调制模块、晶体和ASIC芯片，所述电荷调制模块与所述晶体连接，所述晶体与所述ASIC芯片连接；其中，所述电荷调制模块，用于将电荷输入至所述晶体，电荷能够与晶体的缺陷结合。通过探测器内的电荷调制模块向晶体输入电荷，使得电荷在晶体内部进行漂移运动，以填充晶体缺陷。探测器运行时，晶体内部缺陷减少，从而使得探测器运行时，减少光生载流子被晶体缺陷俘获、复合的情况，使得晶体输入至ASIC芯片的电信号更为准确，从而解决基于光子计数探测器进行CT成像时，成

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117497613A

(43)申请公布日2024.02.02

(21)申请号202311466813.5

(22)申请日2023.11.06

(71)申请人上海联影医疗科技股份有限公司

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