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本发明公开一种基于模板多级匹配的化学仪器位姿估计方法、设备及介质，方法包括：步骤1，数据采集标注：用彩色相机采集各化学仪器的图像为模板图像，建立模板图像数据库，标注关键点并与化学仪器CAD模型三维点对应；步骤2，识别裁剪出化学仪器部分图像为输入图像；步骤3，模板级匹配：从输入图像和模板图像数据库所有模板图像中选相似度误差最小模板图像为最佳匹配模板图像；步骤4，图像级匹配：配准输入图像和最佳匹配模板图像得变换后模板图像关键点；步骤5，像素级匹配：对变换后模板图像关键点稠密光流估计出关键点坐标；步骤
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117495970A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202410005717.9G06V10/762(2022.01)
(22)申请日2024.01
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