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本发明提供一种太赫兹测试样品装置，涉及测试样品装置技术领域。太赫兹测试样品装置包括：第一半椭球罩，第一半椭球罩具有第一开口和第二开口，第一开口用于与太赫兹发射装置连接。第二半椭球罩，第二半椭球罩在长轴方向具有第三开口，在第三开口附近还具有第一孔洞和第二孔洞，第三开口与第二开口可拆卸连接，第二半椭球罩与第一半椭球罩的内表面均有镀金层。样品盛放装置，样品盛放装置设置于第二半椭球罩的第一孔洞所在处的内侧。进气装置，进气装置设置于第二半椭球罩的第二孔洞所在处的外侧且进气时的气体流向朝向样品所在处。太赫兹
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN108507970A
(43)申请公布日
2018.09.07
(21)申请号20181
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