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原子力显微镜的原理及应用

原子力显微镜

原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)起源于扫描隧道显微镜技术，属于扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope,SPM)家族中的一种。它广泛应用于生物、物质结

[i]构、分子生物学等领域，在蛋白单分子结构与功能研究中得到广泛地应。和经典的透用射电镜相比，AFM不受成像环境限制、无需采用重金属喷涂或染色来提高成像反差，并且分辨率高。AFM与传统的X射线衍射、核磁共振、旋光色散等方法相比，具有分辨率高、制样简单以及在保持生物活性下成像等优点。

1.1AFM的原理

AFM通过探测探针与被测样品之间微弱的相互作用力(原子力)来获得物质表面形貌的信息，分辨率可达原子级水平。

AFM采用显微制作的探针扫描待测样品表面，探针被固定在一根有弹性的悬臂的末端，悬臂通常由金和硅的材料制成。探针在样品表面扫描时，测量探针与样品之间的相互作用力，随着针尖与样品表面之间距离的不同，相应产生微小的作用力，就会引起悬臂的偏转。反馈电路通过控制扫描头在垂直方向上的移动，使扫描过程中每一点(x,y)上探针和样品之间的作用力保持恒定;当激光束照射在悬臂的末端，经反射进入光电检测器。针尖与样品表面的距离不同使得激光束的方向发生改变，这就使光电检测器接收到的信号变化，送入计算机的电脉冲也产生相应的变化，检测器