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电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法.pdfVIP

电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法.pdf

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    本申请涉及芯片测试技术领域，公开一种电源芯片测试系统，包括：上位机，用于发送测试指令，对测试过程进行控制和管理；测试板卡，与上位机连接；测试板卡包括板载测试资源模块，用于在接收到测试指令的情况下，执行测试过程，并返回测试数据；待测试芯片顶板，与测试板卡连接，用于搭载待测试芯片，并使待测试芯片的引脚与测试板卡连接。本公开实施例中，上位机在测试过程中直接将测试指令发送给测试板卡，测试板卡在接收到测试指令后，按照测试指令控制板载测试资源模块同时对电源管理芯片的多路电源进行测试，而不需要使用额外的测试设

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117517930A

    (43)申请公布日2024.02.06

    (21)申请号202311567427.5

    (22)申请日2023.11.22

    (71)申请人紫光同芯微电子有限公司

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