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本发明涉及一种X射线偏振度直接测量装置及方法，入射的X射线在光电转换结构发生光电效应，产生携带偏振信息的光电子，光电子经过电子倍增器进行电荷放大后，像素板记录放大后的光电子的运动轨道。信号输出单元接收光电子的运动轨迹，并根据运动轨迹重建得到出射电子的方向，进而测量获得入射X射线的偏振度。上述X射线偏振度直接测量装置及方法，将气体像素探测器作为焦平面探测器，测量入射X光子发生光电效应的光电子径迹，由径迹重建得到出射电子的方向，从而直接测量获得入射X射线的偏振度，能够高效灵敏的探测来自宇宙极端环境下
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117518228A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202311446334.7
(22)申请日2023.11.01
(71)申请人中国计量科学研究院
地址100
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