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本发明涉及光学测量技术领域，具体地说，涉及一种基于反射镜架的光路对准方法、系统、设备及介质；该方法首先通过将所述相机图像数据转换为二维数组变量，高斯拟合得到光斑中心坐标；然后根据设置的运行参数矩阵单步运行反射镜架，计算反射镜架在X轴方向的位移量和Y轴方向的位移量；最后根据位移量调整反射镜架，并计算调整后的反射镜架的光斑坐标判断光路是否对准；根据相机的分辨率和反射镜架定位精度实现不同精度的对准，提高了光路的定位控制速度。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117516884A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202311494611.1
(22)申请日2023.11.10
(71)申请人天府兴隆湖实验室
地址6102
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