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2024-02-10 发布于四川
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一种批量芯片测试方法以及测试系统.pdf

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本发明涉及一种批量芯片测试方法以及测试系统，所述方法用于控制模块；托举设备上放置芯片颗粒；所述批量芯片测试方法包括：判断托举设备的最高位置是否处于预设位置；如果托举设备的最高位置不处于预设位置，调整托举设备的最高位置至预设位置；将托举设备上的芯片颗粒的初始信息，通过多功能测试板，发送到测试主板，集得芯片颗粒的信息。本申请的有益效果包括：一方面能够以机换人，实现同等时间内芯片测试效益的最大化；另一方面能够精准识别出芯片颗粒的两种异常情况，快速判断该异常是芯片颗粒与多功能测试板的连通出现问题，还是向

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117538732A

(43)申请公布日2024.02.09

(21)申请号202311567663.7

(22)申请日2023.11.22

(71)申请人广东长兴半导体科技有限公司

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