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一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统及测试方法.pdf

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    本发明属于嵌入式计算机的测试领域，尤其涉及一种弹上信息处理嵌入式计算机的测试系统及测试方法，该测试系统包括PXI控制器、PXI机箱、功能测试板卡和测试线缆，还包括示波器板卡、万用表板卡、矩阵开关切换板卡和测试信号切换调理单元，矩阵开关切换板卡用于将示波器和万用表信号切换至被测产品的相应信号中，测试信号切换调理单元包括开关及控制部分和自检电路部分，其中开关的数量由被测产品的信号数量决定，每个信号需要2个单刀双掷开关。本发明实现对被测产品和测试系统的阻抗测试、功能测试和性能测试，提升测试自动化水平和

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117537865A

    (43)申请公布日2024.02.09

    (21)申请号202311422081.XH04L43/0817(2022.01)

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