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本申请涉及计算机技术领域并提供一种基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质。方法包括：校正第一环路系统在开环状态下的第一环路带宽；基于相位裕度，确定零点频率相对于第一环路带宽的第一比值和极点频率相对于第一环路带宽的第二比值；基于第一比值和参考电容值校正零点电容的电容值，以及基于第二比值和参考电容值校正极点电容的电容值。如此，在开环状态下运行环路系统并进行闭环稳定性的校正，有利于缩短校正时间和简化控制流程。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117544164A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202410021917.3
(22)申请日2024.01.08
(71)申请人芯耀辉科技有限公
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