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一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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    本发明实施例公开一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片验证领域，能够有效提高异常芯片判定的准确性。所述方法包括：对第一晶圆上第一芯片的第一引脚，依次施加至少两个检测输入值，得到对应的检测输出值；基于所述检测输出值及预设异常判定规则确定所述第一芯片是否异常，其中，所述预设异常判定规则包含多个异常判定条件，当多个异常判定条件中任一条件满足时，判定第一芯片为异常芯片。本发明适用于芯片验证。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117540699A

    (43)申请公布日2024.02.09

    (21)申请号202311572008.0

    (22)申请日2023.11.22

    (71)申请人海光云芯集成电路设计（上海）有限

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