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本发明涉及正渗透膜的膜污染表征方法、装置、电子设备及介质，方法包括：获取阻抗分析仪采集的正渗透膜的阻抗数据；基于所述阻抗数据构建正渗透膜的等效电路模型，根据等效电路模型获取正渗透膜的电感数据；建立所述电感数据的概率密度函数，根据所述电感数据的概率密度函数确定正渗透膜的污染程度。本发明将电感作为正渗透膜的膜污染检测指标，建立电感数据的概率密度函数，根据所述电感数据的概率密度函数确定正渗透膜的污染程度，为检测正渗透膜在离子输送时受到的膜污染提供新的表征方法，解决了传统膜污染测试方法难以检测正渗透膜在
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117558379A
(43)申请公布日2024.02.13
(21)申请号202410020808.X
(22)申请日2024.01.08
(71)申请人武汉工程大学
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