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本发明涉及一种晶圆片曝光系统及方法,包括:光源发射装置,以提供照明光源;第一光罩,设置在所述光源发射装置下方,以接收光源;透镜装置,设置在所述第一光罩下方,以接收辐射后的光源,并将其投影至所述晶圆上;误差晶圆片组,包括多个误差晶圆片,接收所述透镜装置的投影,以测量所述透镜装置所产生的误差;通过曝光误差晶圆片,测量并计算透镜装置达到热稳定过程中的多个误差参数,并根据多个误差参数计算透镜补偿值,其用于制作第二光罩,以替换第一光罩,从而抵消透镜热效应带来的套刻误差,提高生产精度。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117572719A
(43)申请公布日2024.02.20
(21)申请号202311831309.0
(22)申请日2023.12.27
(71)申请人物元半导体技术(青岛)有限公司
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