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2024-02-24 发布于四川
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使用量化和间隔表示的光线相交测试.pdf

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本发明公开了与图形处理器中光线跟踪的基元相交测试相关的技术。在一些实施方案中，图形处理器包括被配置为执行相交测试的光线相交电路，该相交测试包括：量化基元的第一表示以生成该基元的精度降低的间隔表示；量化光线的第一表示以生成该光线的精度降低的间隔表示；以及使用间隔算法基于该基元的该间隔表示的坐标和该光线的该间隔表示的坐标来确定初始相交结果。该初始相交结果可以是保守的结果，使得由该初始相交结果指示的未命中被保证不是该基元的该第一表示和该光线的该第一表示的命中。相对于传统技术，本发明所公开的技术可提高性

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117593439A

(43)申请公布日2024.02.23

(21)申请号202311599104.4(51)Int.Cl.

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