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本发明提供了一种芯片的测试方法、测试系统和电子设备，包括：将预设的存储设备连接到芯片封装设备，以通过存储设备判断芯片封装设备是否可以进行芯片测试；如果判断芯片封装设备可以进行芯片测试，识别芯片封装设备中待测试芯片的芯片类型；根据芯片类型，从多个芯片测试程序中确定芯片类型对应的目标测试程序；将目标测试程序拷贝至芯片封装设备中，以使芯片封装设备根据测试程序对待测试芯片进行芯片测试。该方式中，通过存储设备对芯片封装设备中的芯片类型进行识别和将测试程序拷贝到芯片封装设备中的方法对待测试芯片进行芯片测试的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117594470A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202311562645.X
(22)申请日2023.11.21
(71)申请人深圳市鲸视科技有限公司
地址5
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