GB_T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdfVIP

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CCSV25GB

宇航用半导体集成电路单粒子软错误

时域测试方法

semiconductorintegratedcircuit

2023-09-07发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

前言

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC425)提出并归口。

本文件起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。

本文件主要起草人：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁。

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宇航用半导体集成电路单粒子软错误