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一种全聚焦相控阵探头检测参数的选择方法及系统.pdfVIP

一种全聚焦相控阵探头检测参数的选择方法及系统.pdf

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    本发明公开一种全聚焦相控阵探头检测参数的选择方法及系统，属于全聚焦超声相控阵检测技术领域。该方法利用缺陷响应模块，通过模拟实际检测情况能够呈现不同成像质量的缺陷图像，显示了不同检测参数下的成像区别，能够通过缺陷图像直观判断检测参数合适性，并利用缺陷还原形状(缺陷还原度)和最大幅值两者共同对缺陷响应图进行表征，提升了图像判读的科学性和准确性，避免了某些条件下幅值高但缺陷形状还原效果不佳的情况，并进一步的利用TOPSIS算法实现最优检测参数的自动选择。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117607272A

    (43)申请公布日2024.02.27

    (21)申请号202311564069.2

    (22)申请日2023.11.21

    (71)申请人中国计量大学

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