一种半导体图像对准方法、装置、设备及介质.pdfVIP

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2024-02-28 发布于四川
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本发明涉及半导体定位领域，特别是涉及一种半导体图像对准方法、装置及设备，通过获取待匹配图像；对所述待匹配图像进行主模型图像匹配，得到主模型图像初步位置；根据所述主模型初步位置及预设的主次位置关系信息，确定次模型图像对应的存在区域；对所述存在区域进行次模型图像匹配，得到次模型图像位置；根据所述次模型图像位置及所述主次位置关系信息，确定主模型图像反推位置；根据所述主模型图像初步位置及所述主模型图像反推位置，确定主模型图像最终位置。本发明避免了由于环境因素导致的主模型图像被干扰，遍历图像却始终不能匹配

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117611851A

(43)申请公布日2024.02.27

(21)申请号202311616382.6

(22)申请日2023.11.29

(71)申请人光力瑞弘电子科技有限公司

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