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本发明涉及一种基于传热平衡的磁元件损耗测量方法。该方法通过特定传热通道热阻的温差来获得热量,同时通过直流发热单元的可控已知损耗来平衡左右腔体的传热,达到热平衡。本发明在元件损耗的测量过程中,由于测量的是稳态功率值,因此测量结果不再受材料比热容、耗散功率泄露等因素的影响,提高测量方法对不同测量材料的适用性。本发明在测量过程中只需调整直流源功率和温度探头的位置,使得两侧温度探头相同时,腔体A的耗散功率即为直流功率计显示功率。这使得实验操作更简单,降低了操作过程中可能引入的误差。本发明除了可以用于测量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117607534A
(43)申请公布日2024.02.27
(21)申请号202311785032.2
(22)申请日2023.12.22
(71)申请人福建理工大学
地址350118
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