一种双面磨抛工艺的多目标优化方法、装置、设备和介质.pdfVIP

一种双面磨抛工艺的多目标优化方法、装置、设备和介质.pdf

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明提供一种双面磨抛工艺的多目标优化方法、装置、设备和介质,涉及双面磨抛参数优化技术领域。其包含:S1、获取双面磨抛设备的设备参数。S2、根据设备参数和基于双面磨抛设备运动学模型构建的初始优化模型,构建多目标优化模型。其中,多目标优化模型以磨盘转速np、中心轮转速ns,以及工件偏心距d为优化变量。多目标优化模型以表面质量均匀性、磨盘磨损均匀性、材料去除率、加工过程稳定性和双面材料去除一致性为优化目标。S3、通过粒子群优化算法,以磨盘转速np、中心轮转速ns和工件偏心距d为迭代粒子的坐标进行求解

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117600922A

(43)申请公布日2024.02.27

(21)申请号202311759620.9

(22)申请日2023.12.18

(71)申请人华侨大学

地址362000

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司(原名专利文献出版社)成立于1980年8月,由国家知识产权局主管、主办。长期以来, 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作, 经过多年来的积累,已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

版权声明书
用户编号:5333241143000144
认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地四川
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档