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一种双通道芯片外观检测设备.pdfVIP

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  • 2024-03-02 发布于四川
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一种双通道芯片外观检测设备.pdf

    本发明涉及一种双通道芯片外观检测设备，双通道芯片外观检测设备包括：工作台、送料机构以及检测机构。送料机构包括送料架、送料活动块以及吸嘴，送料架固定设置在工作台上，送料活动块位于工作台的上方，送料活动块上设置有一对吸嘴。检测机构包括位于送料架第一侧的侧面检测组件，侧面检测组件包括：检测平台、侧面检测相机以及X运动平台；送料机构的第一侧的两端处均设置有检测平台；X运动平台滑动设置在检测平台上，X运动平台的两侧均设置有侧面检测相机，X运动平台用于放置待检测芯片，侧面检测相机用于检测待检测芯片的侧面。在

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117629883A

    (43)申请公布日2024.03.01

    (21)申请号202210959860.2

    (22)申请日2022.08.11

    (71)申请人湖南奥创普科技有

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