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用于带电粒子显微镜成像的自动选择和模型训练.pdfVIP

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  • 2024-03-02 发布于四川
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用于带电粒子显微镜成像的自动选择和模型训练.pdf

    用于带电粒子显微镜成像的自动选择和模型训练。本文公开了CPM支持系统，以及相关方法、计算装置和计算机可读介质。例如，在一些实施方案中，一种方法可包括：基于指示显微镜学成像数据的区域的选择的选择数据来确定用于机器学习模型的训练数据。该方法可包括：基于该训练数据来训练该机器学习模型以自动地确定显微镜学成像数据的用于执行诸如高分辨率数据获取和数据分析的至少一个操作的一个或多个区域。该方法可包括：致使计算装置被配置为使用该机器学习模型来自动地确定显微镜学成像数据的用于该至少一个操作的区域。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117634560A

    (43)申请公布日2024.03.01

    (21)申请号202311118330.6G01B21/00(2006.01)

    (22)申请日2023.08.

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