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- 2024-03-02 发布于四川
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本发明公开了一种PD芯片的暗电流测试电路及系统，涉及芯片测试技术领域，包括控制器、测试单元、第一运算放大器、多个采样电阻及第一多路模拟开关，多个所述采样电阻为不同数量级阻值的电阻，所述第一运算放大器的反相端与待测试的PD芯片连接、同相端接地、输出端与所述控制器连接，多个所述采样电阻串联设于所述第一运算放大器反相端和输出端之间，所述第一多路模拟开关与多个所述采样电阻连接，所述控制器控制所述第一多路模拟开关动作，调整在所述第一运算放大器的反相端和输出端之间串联电阻的阻值，测试不同老化条件下待测试的P
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117630636A
(43)申请公布日2024.03.01
(21)申请号202311530111.9
(22)申请日2023.11.16
(71)申请人武汉光谷信息光电子创新中心有限
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