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本申请提供一种基于关联成像的X射线校正装置及校正方法，包括：X光机靶点，用于产生X射线束；准直仪，用于将X射线束限定在一定的扇形范围内；调制板，所述调制板上包括编码阵列，用于将经过准直仪的X射线束按照编码阵列进行空间调制后，辐射到扫描样品上；所述调制板包括用于校正所述调制板安装位置的至少两个偏移校正区、设有编码阵列的编码调制区、以及至少一个透光区；背散射探测器，设于所述调制板后，在进行校正时，用于接收从扫描校正板辐射的X射线信号；校正辅助器，在进行校正时，用于接收从调制板的透光区出射的无遮挡射线
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117631268A
(43)申请公布日2024.03.01
(21)申请号202311607761.9
(22)申请日2023.11.29
(71)申请人北京亿特克科技有
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