缺陷检测参数调整方法、电子设备和储存介质.pdfVIP

  • 5
  • 0
  • 约2.08万字
  • 约 16页
  • 2024-03-02 发布于四川
  • 举报

缺陷检测参数调整方法、电子设备和储存介质.pdf

本申请公开了一种缺陷检测参数调整方法、电子设备和储存介质。该方法包括:获取原始缺陷图像集;对每一原始缺陷图像进行缺陷分类;对每一缺陷图像组匹配的缺陷检测算法对应的算法参数进行调整;确定每一原始缺陷图像的缺陷属性值;将每一原始缺陷图像的真实缺陷属性值依照每一原始缺陷图像对应的型号信息进行分类;基于每一型号信息对应的预设缺陷属性信息确定每一缺陷属性型号分组对应的每一原始缺陷图像的过检结果;基于过检结果确定每一缺陷属性型号分组中每一目标缺陷属性值;基于每一目标缺陷属性值调整每一缺陷图像组匹配的缺陷检测

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117636077A

(43)申请公布日2024.03.01

(21)申请号202410104141.1G06V10/26(2022.01)

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档