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氮氧硅栅介质的可靠性特性分析的任务书

任务概述：

本任务旨在研究和分析氮氧硅栅介质的可靠性特性，包括介质失效机理、可靠性测试方法、寿命预测及影响因素等，并根据分析结果提出改进措施，以提高介质的可靠性。

任务内容：

1.研究氮氧硅栅介质的失效机理，深入探究其失效的原因和机理。

2.了解当前氮氧硅栅介质的可靠性测试方法，综合评估各种测试方法的优缺点，并提出改进措施。

3.基于目前的研究成果，对其寿命进行预测，并给出相应的算法及推理过程。

4.分析影响氮氧硅栅介质可靠性的因素，包括环境、制造过程等，提出改进措施以提高介质的可靠性。

5.综合以上各项内容，撰写详细的报告，并对结果进行综合评价与讨论，提出可行性建议。

任务要求：

1.在任务完成期间，保持良好的工作记录和笔记，及时更新进展情况。

2.制定周计划并按计划完成任务。

3.保持良好的沟通和协作，积极参与团队讨论。

4.按时提交任务报告和相关数据文献。

5.根据需要参加相关培训及考试。

参考资料：

1.等离子体氮化硅氧化物栅介质可靠性研究，李峰，方积民，李毅，赵建华，集成技术，2007。

2.氮化硅氧化物栅介质LTD中导电机制的研究，朱红军，王洋，黄立波，赵淼，中国物理B，2014。

3.一种改进的氮化硅氧化物栅介质生产方法，张迪，王庆伟，陈风山，赵德才，实用新型专利，CN202796652U。

4.评价LTDAEI中氮化硅氧化物栅介质失效的新方法，张汇铭，文重阳，陈昆汉，日用化学工业，2012。

5.计算机Aided可靠性工程，李春进，清华大学出版社，2013。