偏振依赖损耗测试仪校准规范.docx

JJF1690—2018

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偏振依赖损耗测试仪校准规范

1范围

本规范适用于偏振依赖损耗测试仪的校准。

2引用文件

本规范引用了下列文件：

GB/T18311.2—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第

3-2部分：检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文

件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。

3术语和计量单位

以下术语和定义适用于本校准规范。

3.1偏振依赖损耗polarizationdependentloss(PDL)

传输光信号在全偏振态变化时，光器件或光网络输出端口输出光功率的最大变化

量，单位dB,其定义见式(1):

PDL=Pmx—Pmi(1)

式中：

Pmax——被测件全偏振态下的输出端口最大输出光功率，dBm;

Pmin——被测件全偏振态下的输出端口最小输出光功率，dBm。

4概述

偏振依赖损耗测试仪主要用于光纤、光纤器件(包括耦合器、光环行器、光连接器和波分复用器等)在研制、生产和检测等过程中PDL技术指标的测试。目前，偏振依

赖损耗测试仪采用的方法主要有偏振态扫描法、穆勒矩阵法和琼斯矩阵法。

4.1偏振态扫描法原理

偏振态扫描法是测试PDL的基本方法，它依据PDL定义完成测试，其测试原理如图1所示。光源输出的光经偏振扫描模块后偏振态发生随机变化，由于被测件的偏振依赖损耗特性，光探测器接收到的光功率随着偏振态的变化而改变。当偏振扫描模块扫描时间足够长时，经过被测件的偏振态就足够多，即可从光探测器接收到的系列数据中，

利用其定义式求得被测器件的PDL。

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偏振依赖损耗测试仪

偏振依赖损耗测试仪

光源偏振扫描模块

被测件

光探测器

图1偏振态扫描法PDL测试原理图

4.2穆勒矩阵法原理

穆勒(Mueller)矩阵法是根据偏振光的传输特性，利用穆勒矩阵及拉格朗日求极值法推导出来的测试方法，其测试原理如图2所示。测试过程主要分两步：首先不加被测件，如图2虚线所示，通过偏振控制模块分别产生45°、0°、90°线偏振光及圆偏振光，测出每个偏振态对应的光功率。第二步，把被测件放入光路，如图2实线所示，通过偏振控制模块重新产生以上四种偏振态，测出每个偏振态通过被测件的光功率。将以

上光功率代入穆勒矩阵方程，通过计算可获得被测件的PDL

偏振依赖损耗

偏振依赖损耗测试仪

光源偏振控制模块

被测件

光探测器

图2穆勒矩阵法PDL测试原理图

4.3琼斯矩阵法原理

琼斯(Jones)矩阵法也是利用了光的传输特性，但与穆勒矩阵法相比又有所不同。琼斯矩阵法的计算使用了2×2琼斯矩阵和光的琼斯矢量传输特性，在求解琼斯矩阵方程时仅使用三个特殊偏振态，其测试原理如图3所示。测试过程主要分两步：首先不加被测件，如图3虚线所示，偏振控制器模块分别产生45°、0°和90°线偏振光，用偏振分析模块测出每个偏振态。第二步，把被测件放入光路，如图3实线所示，偏振控制器模块重新产生以上三种偏振态，重新测出经过被测器件后的三种偏振态。将以上偏振态代

入琼斯矩阵方程，通过计算可获得被测件的PDL。

偏振依赖损耗测试仪

偏振依赖损耗测试仪

光源偏振控制模块

被测件

偏振分析模块

图3琼斯矩阵法PDL测试原理图

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5计量特性

5.1偏振依赖损耗示值误差

偏振依赖损耗示值误差：±(0.01dB+PDL测量值×5%)

5.2偏振依赖损耗测量重复性

偏振依赖损耗测量重复性：0.005dB+PDL测量值×2%

注：以上指标不适用于合格判定，仅供参考。

6校准条件

6.1环境条件

6.1.1环境温度：(23±5)℃,校准期间温度变化不超过2℃。

6.1.2相对湿度：≤80%。

6.1.3供电电压：(220±11)V,频率：(50±2)Hz。

6.1.4周围无剧烈振动，无影响校准结果的强磁场。

6.2测量标准及其他设备

6.2.1光功率计

6.2.1.1波长范围：800nm～1700nm。

6.2.1.2功率测量范围：+10dBm～—60dBm。

6.2.1.3功率非线性：优于±0.015dB。

6.2.1.4偏振依赖损耗：≤0.02dB。

6.2.2偏振控制器

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