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本申请案涉及用于具有模拟推理能力的集成电路装置的权重校准检查。一种集成电路装置，其具有用以检查经配置以执行乘法和累加运算的存储器单元的校准的机制。所述集成电路装置在第一模式下将存储器单元阵列中的第一存储器单元的阈值电压编程以存储权重数据，并且在第二模式下将所述存储器单元阵列中的第二存储器单元的阈值电压编程以存储将乘法和累加运算应用于样本输入和所述权重数据的第一结果。在校准检查期间，所述集成电路装置使用所述第一存储器单元执行所述运算以获得第二结果，并且将从所述第二存储器单元检索到的所述第一结果与所
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117672323A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202311141205.7
(22)申请日2023.09.06
(30)优先权数据
17/940,9452022
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