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本发明公开了电连接器的接触压力与接触电阻关联分析方法，属于电连接器稳定性分析技术领域。本发明解决了现有缺少对电连接器接触压力与接触电阻关联分析的问题，通过建立接触压力、分离力和接触电阻数学模型及GA‑Weibull模型和数值模型，将数值模型导入有限元仿真软件再进行插拔试验，将根据试验和仿真结果进行拟合，由此分析接触压力和接触电阻随插入深度的变化规律，揭示并修正两者拟合关系；结果表明接触压力和接触电阻仿真值和试验值的平均相对误差均低于5％，使得所建立的模型和试验方案具有较高的可靠性；且GA‑Wei
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117669328A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202311709335.6
(22)申请日2023.12.13
(71)申请人上海理工大学
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